માહિતી માટેની લોકોની વધતી જતી માંગને પહોંચી વળવા માટે, ઓપ્ટિકલ ફાઈબર કોમ્યુનિકેશન સિસ્ટમ્સનો ટ્રાન્સમિશન દર દિવસેને દિવસે વધી રહ્યો છે. ભાવિ ઓપ્ટિકલ કોમ્યુનિકેશન નેટવર્ક અલ્ટ્રા-હાઈ સ્પીડ, અલ્ટ્રા-લાર્જ કેપેસિટી, અલ્ટ્રા-લોંગ ડિસ્ટન્સ અને અલ્ટ્રા-હાઈ સ્પેક્ટ્રમ કાર્યક્ષમતા સાથે ઓપ્ટિકલ ફાઈબર કોમ્યુનિકેશન નેટવર્ક તરફ વિકાસ કરશે. ટ્રાન્સમીટર મહત્વપૂર્ણ છે. હાઇ-સ્પીડ ઓપ્ટિકલ સિગ્નલ ટ્રાન્સમીટર મુખ્યત્વે લેસરથી બનેલું છે જે ઓપ્ટિકલ કેરિયર જનરેટ કરે છે, મોડ્યુલેટિંગ ઇલેક્ટ્રિકલ સિગ્નલ જનરેટ કરે છે અને હાઇ-સ્પીડ ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિકલ મોડ્યુલેટર છે જે ઓપ્ટિકલ કેરિયરને મોડ્યુલેટ કરે છે. અન્ય પ્રકારના બાહ્ય મોડ્યુલેટરની તુલનામાં, લિથિયમ નિયોબેટ ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિકલ મોડ્યુલેટર્સ પાસે વિશાળ ઓપરેટિંગ આવર્તન, સારી સ્થિરતા, ઉચ્ચ લુપ્તતા ગુણોત્તર, સ્થિર કાર્ય પ્રદર્શન, ઉચ્ચ મોડ્યુલેશન દર, નાના ચીપ, સરળ જોડાણ, પરિપક્વ ઉત્પાદન તકનીક વગેરેના ફાયદા છે. હાઇ-સ્પીડ, મોટી-ક્ષમતા અને લાંબા-અંતરની ઓપ્ટિકલ ટ્રાન્સમિશન સિસ્ટમ્સમાં વ્યાપકપણે ઉપયોગમાં લેવાય છે.
અર્ધ-તરંગ વોલ્ટેજ એ ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિક મોડ્યુલેટરનું અત્યંત જટિલ ભૌતિક પરિમાણ છે. તે ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિક મોડ્યુલેટરના આઉટપુટ લાઇટ ઇન્ટેન્સિટીને ન્યૂનતમથી મહત્તમ સુધીના બાયસ વોલ્ટેજમાં ફેરફારનું પ્રતિનિધિત્વ કરે છે. તે ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિક મોડ્યુલેટરને મોટા પ્રમાણમાં નક્કી કરે છે. ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિક મોડ્યુલેટરના હાફ-વેવ વોલ્ટેજને સચોટ અને ઝડપથી કેવી રીતે માપવું તે ઉપકરણની કામગીરીને શ્રેષ્ઠ બનાવવા અને ઉપકરણની કાર્યક્ષમતામાં સુધારો કરવા માટે ખૂબ જ મહત્વપૂર્ણ છે. ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિક મોડ્યુલેટરના હાફ-વેવ વોલ્ટેજમાં ડીસી (અર્ધ-તરંગ
વોલ્ટેજ અને રેડિયો ફ્રીક્વન્સી) અર્ધ-તરંગ વોલ્ટેજ. ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિક મોડ્યુલેટરનું ટ્રાન્સફર કાર્ય નીચે મુજબ છે:
તેમની વચ્ચે ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિક મોડ્યુલેટરની આઉટપુટ ઓપ્ટિકલ પાવર છે;
મોડ્યુલેટરની ઇનપુટ ઓપ્ટિકલ પાવર છે;
ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિક મોડ્યુલેટરનું નિવેશ નુકશાન છે;
હાફ-વેવ વોલ્ટેજને માપવા માટેની હાલની પદ્ધતિઓમાં આત્યંતિક મૂલ્ય જનરેશન અને ફ્રીક્વન્સી ડબલિંગ પદ્ધતિઓનો સમાવેશ થાય છે, જે અનુક્રમે મોડ્યુલેટરના ડાયરેક્ટ કરંટ (DC) હાફ-વેવ વોલ્ટેજ અને રેડિયો ફ્રીક્વન્સી (RF) હાફ-વેવ વોલ્ટેજને માપી શકે છે.
કોષ્ટક 1 બે અર્ધ-તરંગ વોલ્ટેજ પરીક્ષણ પદ્ધતિઓની સરખામણી
| આત્યંતિક મૂલ્ય પદ્ધતિ | આવર્તન બમણી પદ્ધતિ | |
| લેબોરેટરી સાધનો | લેસર પાવર સપ્લાય પરીક્ષણ હેઠળ તીવ્રતા મોડ્યુલેટર એડજસ્ટેબલ ડીસી પાવર સપ્લાય ±15V ઓપ્ટિકલ પાવર મીટર | લેસર પ્રકાશ સ્ત્રોત પરીક્ષણ હેઠળ તીવ્રતા મોડ્યુલેટર એડજસ્ટેબલ ડીસી પાવર સપ્લાય ઓસિલોસ્કોપ સિગ્નલ સ્ત્રોત (ડીસી બાયસ) |
| પરીક્ષણ સમય | 20 મિનિટ() | 5 મિનિટ |
| પ્રાયોગિક ફાયદા | પરિપૂર્ણ કરવા માટે સરળ | પ્રમાણમાં સચોટ પરીક્ષણ તે જ સમયે ડીસી હાફ-વેવ વોલ્ટેજ અને આરએફ હાફ-વેવ વોલ્ટેજ મેળવી શકે છે |
| પ્રાયોગિક ગેરફાયદા | લાંબા સમય અને અન્ય પરિબળો, પરીક્ષણ ચોક્કસ નથી ડાયરેક્ટ પેસેન્જર ટેસ્ટ ડીસી હાફ-વેવ વોલ્ટેજ | પ્રમાણમાં લાંબો સમય મોટા વેવફોર્મ વિકૃતિ ચુકાદાની ભૂલ, વગેરે જેવા પરિબળો, પરીક્ષણ સચોટ નથી |
તે નીચે પ્રમાણે કાર્ય કરે છે:
(1) એક્સ્ટ્રીમ વેલ્યુ પદ્ધતિ
ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિક મોડ્યુલેટરના ડીસી હાફ-વેવ વોલ્ટેજને માપવા માટે આત્યંતિક મૂલ્ય પદ્ધતિનો ઉપયોગ થાય છે. પ્રથમ, મોડ્યુલેશન સિગ્નલ વિના, ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિક મોડ્યુલેટરનું ટ્રાન્સફર ફંક્શન કર્વ ડીસી બાયસ વોલ્ટેજ અને આઉટપુટ લાઇટ ઇન્ટેન્સિટી ફેરફારને માપીને મેળવવામાં આવે છે, અને ટ્રાન્સફર ફંક્શન કર્વમાંથી મહત્તમ મૂલ્ય બિંદુ અને લઘુત્તમ મૂલ્ય બિંદુ નક્કી કરો, અને અનુક્રમે Vmax અને Vmin અનુરૂપ ડીસી વોલ્ટેજ મૂલ્યો મેળવો. છેલ્લે, આ બે વોલ્ટેજ મૂલ્યો વચ્ચેનો તફાવત એ ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિક મોડ્યુલેટરનું અર્ધ-તરંગ વોલ્ટેજ Vπ=Vmax-Vmin છે.
(2) આવર્તન બમણી પદ્ધતિ
તે ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિક મોડ્યુલેટરના આરએફ હાફ-વેવ વોલ્ટેજને માપવા માટે ફ્રીક્વન્સી ડબલિંગ પદ્ધતિનો ઉપયોગ કરી રહ્યું હતું. જ્યારે આઉટપુટ પ્રકાશની તીવ્રતા મહત્તમ અથવા ન્યૂનતમ મૂલ્યમાં બદલાઈ જાય ત્યારે ડીસી વોલ્ટેજને સમાયોજિત કરવા માટે તે જ સમયે ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિક મોડ્યુલેટરમાં ડીસી બાયસ કમ્પ્યુટર અને એસી મોડ્યુલેશન સિગ્નલ ઉમેરો. તે જ સમયે, અને તે ડ્યુઅલ-ટ્રેસ ઓસિલોસ્કોપ પર અવલોકન કરી શકાય છે કે આઉટપુટ મોડ્યુલેટેડ સિગ્નલ આવર્તન બમણી વિકૃતિ દેખાશે. બે સંલગ્ન આવર્તન ડબલિંગ વિકૃતિઓને અનુરૂપ ડીસી વોલ્ટેજનો એકમાત્ર તફાવત એ ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિક મોડ્યુલેટરનો આરએફ હાફ-વેવ વોલ્ટેજ છે.
સારાંશ: આત્યંતિક મૂલ્ય પદ્ધતિ અને આવર્તન બમણી પદ્ધતિ બંને સૈદ્ધાંતિક રીતે ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિક મોડ્યુલેટરના અર્ધ-તરંગ વોલ્ટેજને માપી શકે છે, પરંતુ સરખામણી માટે, શક્તિશાળી મૂલ્ય પદ્ધતિને લાંબા સમય સુધી માપન સમયની જરૂર છે, અને લાંબો સમય માપન સમયને કારણે થશે. લેસરની આઉટપુટ ઓપ્ટિકલ પાવર વધઘટ થાય છે અને માપન ભૂલોનું કારણ બને છે. એક્સ્ટ્રીમ વેલ્યુ મેથડને નાના સ્ટેપ વેલ્યુ સાથે ડીસી બાયસને સ્કેન કરવાની અને વધુ ચોક્કસ ડીસી હાફ-વેવ વોલ્ટેજ વેલ્યુ મેળવવા માટે તે જ સમયે મોડ્યુલેટરની આઉટપુટ ઓપ્ટિકલ પાવર રેકોર્ડ કરવાની જરૂર છે.
ફ્રીક્વન્સી ડબલિંગ મેથડ એ ફ્રીક્વન્સી ડબલિંગ વેવફોર્મનું અવલોકન કરીને હાફ-વેવ વોલ્ટેજ નક્કી કરવાની પદ્ધતિ છે. જ્યારે લાગુ પૂર્વગ્રહ વોલ્ટેજ ચોક્કસ મૂલ્ય સુધી પહોંચે છે, ત્યારે આવર્તન ગુણાકાર વિકૃતિ થાય છે, અને વેવફોર્મ વિકૃતિ ખૂબ ધ્યાનપાત્ર નથી. નરી આંખે અવલોકન કરવું સહેલું નથી. આ રીતે, તે અનિવાર્યપણે વધુ નોંધપાત્ર ભૂલોનું કારણ બનશે, અને તે જે માપે છે તે ઇલેક્ટ્રો-ઓપ્ટિક મોડ્યુલેટરના આરએફ હાફ-વેવ વોલ્ટેજ છે.